GIS内部缺陷种类及其放电特征（2）

GIS设备内部缺陷产生局部放电的特征

a. 发生在导体周围的电晕放电，由于气体中的分子是自由移动的，因此GIS设备中的电晕放电过程与空气中的电晕放电相似。

b. GIS设备中绝缘子内部的气隙放电在工频正负两个半周内基本相同，即正负半周放电指纹基本对称。放电脉冲一般出现在试验电压幅值绝对值的上升部分，放电频率依赖于所加电压大小，只有在放电强烈时，才一会扩展到电压绝对值下降部分的相位上，且每次放电的大小不相等。

c. 绝缘子表面的缺陷(如污秽等)有助于表面电荷的增加，可能会形成表面放电，导致绝缘子表面的绝缘劣化，甚至击穿。

d. 自由导电微粒和固体导体上金属突起放电的相位分布有着明显不同。这个特征通常可以用来区分缺陷的类型。GIS设备中自由导电微粒有积累电荷能力，在交流电压作用下，静电力可使导电微粒在GIS筒内跳动，如直立旋转、舞动运动等。这种运动与放电的出现在很大程度上是随机的。