局部放电（简称局放）是指仅使导体间的部分绝缘发生的放电现象，发生局放的位置距离导体可能很近，也有可能距离导体很远。造成局部放电的原因一般是绝缘体表面或者内部的场强畸变，通常局部放电波形是持续时间<1μs的高频脉冲。电晕放电是局部放电的一种，它是在导体附近的介质中发生的。并不是所有的局部放电都是电晕放电，局部放电还存在着其它表现形式。
局部放电经常发生在液体介质的气泡中或者固体的孔隙，或者由于高压电气设备的固体介质、气体介质或液体介质中有尖的突起导致空间电场严重畸变。如果局部场强超过放电起始电压，而且存在自由电子，则会发生电子崩。可能由于空腔壁的壁全效应，或者由于在气体介质或液体介质中传播时的空间电荷效应，这样的电子崩止于局部放电。局部放电的过程是有局限的，而且具有暂态的性质，在时空特性上具有微秒级或更短的时间持续表现。虽然局部放电持续的时间很短，但是局部放电的高能带电粒子与直接在导体附近的液体介质或者固体介质相互影响，最终可能导致分子的化学键断裂、化学性质发生变化，烧烛绝缘材料。
很重要的一点是，我们检测得到的并不是真正的局部放电，它是局部放电在靠近导体或终端产生的电荷，或者甚至从更为复杂的角度，波从诱导电荷传播到局部放电检测器。在频率更高时，分立元件这个概念并不一定总能有效的，而实际上分析这类问题时更多的采用偶极子模型或波激励的概念。
在长时间的作用下，高能带电粒子与直接在导体附近的液体或者固体介质相互影响最终可能会导致全部绝缘的介电性能受到破坏，假如局部放电是连续发生的，则这种破坏将具有累积效应，这种破坏实际上就是一种绝缘“运行老化”。虽然造成绝缘变得老化的过程还有其它原因，但是局放现象是引起介质绝缘老化的一个最主要原因。因此，在绝缘介质中对局部放电进行检测和标定是评定绝缘状态的必然要求。
关注微信公众号