脉冲型干扰

局部放电的电气检测法是在定的电压条件下，当设备的绝缘结构被腐蚀时，测试由试品局部放电所引起的高频电流脉冲信号。因为这类干扰信号会经常出现不固定的相位，和局部放电信号的波形也非常相似，所以是最难以去除的一类干扰信号。此类干扰的特点是：在时域上表现为脉冲信号，且持续时间非常短暂；而在频域上表现为宽带信号，含多钟频率成分。

1. 可控硅元件动作引起的干扰
引起此类干扰的原因是：在供电设备中，存在可控硅元件在工作。可控硅干扰扰是一种最强的干扰源，其干扰的大小和所用可控硅的功率息息相关。此类干扰波形的特点是：在椭圆基线上，每个元件都会产生一个与之相应的高频电流脉冲信号，信号的位置是固定的，且所占的比重比较大、因为当电路被接通时，信号的波形会变宽，幅值会增大，电磁耦合效应将会增强。

2. 异步电机引起的干扰
引起此类干扰的原因是：在检测回路中有耦合的异步电机在运行。此类干扰波形的特点是：在椭圆正、负半周上对称的出现两组信号，且沿椭圆基线逆扫描方向移动。

3. 荧光灯引起的干扰
此类干扰波形的特点是：在椭圆墓线的正、负半周上，对称分布出现栏栅状的二簇脉冲组，且信号的幅值大小基本相等。如图所示：(1)为单个可控硅元件动作产生的干扰；(2)为6极水银整流器产生的干扰，它和可控硅动作产生的干扰波形作常相似；(3)为旋转电机产生的干扰；(4)为荧光灯工作引起的干扰。