GIS内部可能出现的缺陷类型
①金属突出物
金属突出物通常有两种存在形式：一种是高压导体上的金属突起毛刺，另一种是GIS罐体内壁上的金属突起毛刺。两种形式的放电基本类似，但发生放电的相位正好相反，高压导体上的金属突出物通常在工频负半周首先放电，而罐体内壁的放电则首先出现在工频正半周。②自由导电微粒
自由导电微粒通常是大小不一的金属颗粒，它们能够在外电场作用下感应电荷以获得足够的能量，并在电场力的作用下发生跳动或位移现象。如果电场足够强，自由导电微粒获得的能量足够大，在电场持续作用下，微粒完全有可能越过外壳和高压导体之间的间隙或移动到有损绝缘的地方。导电微粒运动的程度既取决于形状和材料，又取决外电场强度和作用时间等因素。当导电微粒接近而未接触到高压导体时，最容易表现的电气特征是产生PD。同时，导电微粒在迁移过程中和附着在绝缘子表面时也会产生PD，但不同的运动形式所产生的PD的n一q一φ谱图各异。③绝缘子表面污染
绝缘子表面吸附的金属微粒，通常会移动到低电场区而不发生PD，但在某些情况下也会长期地固定在绝缘子表面，成为固定金属微粒。它粘贴在绝缘表面的作用类似于金属突出物。然而，绝缘子表面固定金属微粒有以下几个主要不同特征：绝缘子上的有些微粒起初可能并不危险，但由于机械振动或操作过电压引起的静电力，会造成其轻微运动并最终朝着危险的方向发展；1）绝缘子表面的微粒会形成表面电荷集聚，从而在某种程度上加大了故障的可能性；
2）微粒的放电会导致绝缘子表面损伤，在工频作用下产生表面树痕，最终导致绝缘故障。
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