GIS绝缘缺陷的分类(2)-国浩电气
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GIS绝缘缺陷的分类(2)

发布时间:2021-08-20 01:06:53人气:

(3)悬浮电位
在GIS开关设备中存在着大量的连接触头和金属屏蔽,由于不良的装配或经过长期的运行,在电动力(静电力引起的机械振动)或外力(断路器操作的振动)的作用下它们可能会出现松动甚至振动。这种屏蔽振动或触头电接触松动,会形成悬浮电位,从而构成电容。该电容被外施电压充电,当充电电压超过耐受电压时,就会产生大规模局部放电。

GIS屏蔽松动
GIS屏蔽松动
上图是一个500kV GIS上松动的金属屏蔽的图片,由于紧固螺栓松动使得屏蔽搭接在高压导体上,该故障在出厂试验时被发现和排除。

(4)绝缘子气隙或内部缺陷
在GIS绝缘子制造过程中,时常会产生一些内部缺陷,比如内部气隙、嵌入的金属微粒等。其中绝缘子内部气泡缺陷最为常见,它主要是由于在绝缘件生产过程中真空度不够或环氧树脂在固化过程中的收缩而出现的内部空隙所造成的,此外因环氧树脂与金属电极的收缩系数不同,也会形成气泡和空隙。同时在GIS整间隔装配时也可能刮伤或碰伤绝缘件造成裂缝等气隙缺陷。
GIS绝缘子缺陷
GIS绝缘子缺陷
上图是一组GIS绝缘子缺陷引起的闪络放电的图片,其中左侧是内部有气隙裂纹的盆式绝缘子,右侧是表面有划痕的支撑绝缘子。随着生产工艺水平以及出厂试验要求的不断提高(IEC标准规定绝缘件的单件试验要求局部放电小于3pC),绝缘子内部气隙产生可能性很小。在实际生产中,绝缘子缺陷即便发生也多是因为安装过程中的不当操作所致。

(5)绝缘子表面污染物
绝缘子的表面污染物可能是由于以下原因造成的:

a. GIS腔体内的自由金属微粒运动到绝缘子表面;
b. 触头运动摩擦产生的金属微粒散落到支撑绝缘子表面;
c. 局部放电产生的分解物,比如工厂或现场耐压试验时放电闪络在绝缘子表面产生的树痕;

其中绝缘子表面吸附的固体自由金属微粒,在某些情况下(比如被油脂粘住)会长期地固定在绝缘子表面,作用类似于金属突起物。这类绝缘子表面微粒缺陷可能在最初阶段对GIS没有任何危险,但随着表面电荷的积累和静电力的作用,可能会发生移动并最终对设备绝缘造成损害引发故障。
GIS绝缘子表面污染物闪络
GIS绝缘子表面污染物闪络
上图是一组GIS绝缘子由于表面污染物而引起的沿面闪络放电的图片。在出厂试验阶段这一类缺陷引发的局部放电还是比较常见的,这也从另一方面表明保持绝缘件表面的洁净度是非常重要的。

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